Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Сергеев, А.Г. - Нанометрология
Сергеев, А.Г. - Нанометрология
Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Сергеев, А.Г.
Нанометрология
Издательство: Логос, 2011 г.
ISBN 978-5-98704-494-0
Автор: Сергеев, А.Г.
Нанометрология
Издательство: Логос, 2011 г.
ISBN 978-5-98704-494-0
На полку
Электронный ресурс
Сергеев, А.Г.
Нанометрология / Сергеев А. Г. – Москва : Логос, 2011. – 415. – URL: http://www.biblioclub.ru/index.php?page=book&id=84986 . – На рус. яз. – ISBN 978-5-98704-494-0.
Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX— XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям — поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008—2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрологического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области.Для ученых, инженеров и других специалистов, разрабатывающих проблемы нанометрологии. Может использоваться в учебном процессе вузов при подготовке кадров в сфере нанотехнологии, метрологии и технического регулирования, а также в магистратуре и аспирантуре в этих научно-технических областях.
Сергеев, А.Г.
Нанометрология / Сергеев А. Г. – Москва : Логос, 2011. – 415. – URL: http://www.biblioclub.ru/index.php?page=book&id=84986 . – На рус. яз. – ISBN 978-5-98704-494-0.
Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX— XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям — поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008—2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрологического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области.Для ученых, инженеров и других специалистов, разрабатывающих проблемы нанометрологии. Может использоваться в учебном процессе вузов при подготовке кадров в сфере нанотехнологии, метрологии и технического регулирования, а также в магистратуре и аспирантуре в этих научно-технических областях.