Электронный каталог Фундаментальной
библиотеки ФГБОУ ВО МГППУ

👓
eng|rus
Фундаментальная библиотека Московского
государственного психолого-педагогического
университета

Адрес: г. Москва, ул. Сретенка, д. 29
Телефон: 8 (495) 607-23-40
Часы работы: пн-пт — 9:00—20:00; сб — 10:00—18:00
bib_logo

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
      • Список дисциплин

    • Помощь

    Личный кабинет :


    Электронный каталог: Сперанский, Д. В. - Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств

    Сперанский, Д. В. - Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств

    Нет экз.
    Электронный ресурс
    Автор: Сперанский, Д. В.
    Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств
    Издательство: Национальный Открытый Университет «ИНТУИТ», 2016 г.
    ISBN отсутствует

    полный текст

    На полку На полку


    Электронный ресурс
    32.965

    Сперанский, Д. В.
    Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств / Ю.А. Скобцов ; В.Ю. Скобцов. – 2-е изд., испр. – Москва : Национальный Открытый Университет «ИНТУИТ», 2016. – 535 с. – URL: http://biblioclub.ru/index.php?page=book&id=429075 . – На рус. яз.

    Целью предлагаемого читателю курса лекций является изложение некоторых разделов теории (и ее приложений), которую в широком смысле можно назвать тестированием цифровой аппаратуры. Более точно, основное внимание будет уделено вопросам генерации тестов, моделированию работы цифровых устройств (ЦУ) и рациональному представлению диагностической информации. Здесь будет дано описание многих понятий, моделей и методов, используемых в упомянутой теории, которые с полным правом можно назвать ставшими классическими. Наряду с ними будут изложены сравнительно недавно возникшие понятия и методы, которые уже подтвердили свою полезность и эффективность.В курсе излагаются алгоритмы и методы логического моделирования исправных и неисправных цифровых устройств, востребованные при решении задач технической диагностики. Описываются методы построения проверяющих и диагностических тестов для комбинационных устройств и устройств с памятью, широко используемые на этапах их проектирования и эксплуатации. Представлены методы обработки результатов тестирования и диагностики устройств, а также сокращения диагностической информации с целью локализации неисправностей.

    ББК 32.965


    © Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.159