Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Суворов, Э. В. - Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов
Суворов, Э. В. - Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов
Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Суворов, Э. В.
Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов : учебное пособие для вузов
Серия: Высшее образование
Издательство: Юрайт, 2022 г.
ISBN 978-5-534-06011-9
Автор: Суворов, Э. В.
Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов : учебное пособие для вузов
Серия: Высшее образование
Издательство: Юрайт, 2022 г.
ISBN 978-5-534-06011-9
На полку
Электронный ресурс
Суворов, Э. В.
Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов : учебное пособие для вузов. – 2-е изд, пер. и доп. – Электрон. дан. – Москва : Юрайт, 2022. – 180 с. – (Высшее образование) . – URL: https://urait.ru/bcode/492544, https://urait.ru/book/cover/9D7A41E0-5847-42EE-8B7D-AE61586A1BDC. – Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей . – URL: https://urait.ru/bcode/492544 (дата обращения: 30.05.2022). – На рус. яз. – ISBN 978-5-534-06011-9 : 789.00.
С конца прошлого столетия широкое распространение в целом ряде направлений новой техники получили принципиально новые материалы, такие как нанокристаллы, квазикристаллы, фуллерены, магнитные кристаллы с особыми свойствами и др. Изучение их структуры и свойств требует привлечения комплекса разнообразных физических методов исследования, взаимно дополняющих друг друга. Большинство известных в настоящее время экспериментальных методов исследования структуры материалов основано на взаимодействии излучений разной природы с исследуемыми материалами и последующим анализом картин рассеяния. Курс посвящен дифракционным методам исследования структуры и состава материалов. Необходимость курсаобусловлена прежде всего тем, что учебные курса по этому направлению в отечественной литературе практически отсутствуют. Автор курса — известный специалист в области дифракции рентгеновского излучения на различных структурах, механизмов образования дифракционного изображения дефектов в кристаллах — делает попытку восполнить этот пробел.
67.017(075.8)
Рубрикатор Юрайт = Юрайт. Физика и астрономия
Рубрикатор Юрайт = Юрайт. Естественные науки
Рубрикатор Юрайт = Юрайт. Теория строения материалов
Рубрикатор Юрайт = Юрайт. Кристаллография, рентгенография и микроскопия
Рубрикатор Юрайт = Юрайт. Основы теории строения материалов
Рубрикатор Юрайт = Юрайт. Реальная структура материалов
Рубрикатор Юрайт = Юрайт. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия
Рубрикатор Юрайт = Юрайт. Методы анализа состава материалов
Рубрикатор Юрайт = Юрайт. Методы структурного анализа материалов
Суворов, Э. В.
Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов : учебное пособие для вузов. – 2-е изд, пер. и доп. – Электрон. дан. – Москва : Юрайт, 2022. – 180 с. – (Высшее образование) . – URL: https://urait.ru/bcode/492544, https://urait.ru/book/cover/9D7A41E0-5847-42EE-8B7D-AE61586A1BDC. – Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей . – URL: https://urait.ru/bcode/492544 (дата обращения: 30.05.2022). – На рус. яз. – ISBN 978-5-534-06011-9 : 789.00.
С конца прошлого столетия широкое распространение в целом ряде направлений новой техники получили принципиально новые материалы, такие как нанокристаллы, квазикристаллы, фуллерены, магнитные кристаллы с особыми свойствами и др. Изучение их структуры и свойств требует привлечения комплекса разнообразных физических методов исследования, взаимно дополняющих друг друга. Большинство известных в настоящее время экспериментальных методов исследования структуры материалов основано на взаимодействии излучений разной природы с исследуемыми материалами и последующим анализом картин рассеяния. Курс посвящен дифракционным методам исследования структуры и состава материалов. Необходимость курсаобусловлена прежде всего тем, что учебные курса по этому направлению в отечественной литературе практически отсутствуют. Автор курса — известный специалист в области дифракции рентгеновского излучения на различных структурах, механизмов образования дифракционного изображения дефектов в кристаллах — делает попытку восполнить этот пробел.
67.017(075.8)
Рубрикатор Юрайт = Юрайт. Физика и астрономия
Рубрикатор Юрайт = Юрайт. Естественные науки
Рубрикатор Юрайт = Юрайт. Теория строения материалов
Рубрикатор Юрайт = Юрайт. Кристаллография, рентгенография и микроскопия
Рубрикатор Юрайт = Юрайт. Основы теории строения материалов
Рубрикатор Юрайт = Юрайт. Реальная структура материалов
Рубрикатор Юрайт = Юрайт. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия
Рубрикатор Юрайт = Юрайт. Методы анализа состава материалов
Рубрикатор Юрайт = Юрайт. Методы структурного анализа материалов