Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Блееман, А. И. - Теоретические основы методов исследования наноматериалов
Блееман, А. И. - Теоретические основы методов исследования наноматериалов
Нет экз.
Электронный ресурс
Автор: Блееман, А. И.
Теоретические основы методов исследования наноматериалов : учебное пособие
Издательство: Омский государственный технический университет (ОмГТУ), 2017 г.
ISBN 978-5-8149-2506-0
Автор: Блееман, А. И.
Теоретические основы методов исследования наноматериалов : учебное пособие
Издательство: Омский государственный технический университет (ОмГТУ), 2017 г.
ISBN 978-5-8149-2506-0
На полку
Электронный ресурс
Блееман, А. И.
Теоретические основы методов исследования наноматериалов : учебное пособие / Минобрнауки России ; Омский государственный технический университет. – Омск : Омский государственный технический университет (ОмГТУ), 2017. – 78 с. : табл., схем., ил. – URL: https://biblioclub.ru/index.php?page=book&id=493262. – Режим доступа: электронная библиотечная система «Университетская библиотека ONLINE», требуется авторизация . – Библиогр.: с. 69. – На рус. яз. – ISBN 978-5-8149-2506-0.
Представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов – растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики.Учебное пособие адресовано обучающимся по направлениям 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия».
620.22-022.532:620.3(075)
Рубрикатор Университетской библиотеки онлайн = Учебник для высшей школы
Блееман, А. И.
Теоретические основы методов исследования наноматериалов : учебное пособие / Минобрнауки России ; Омский государственный технический университет. – Омск : Омский государственный технический университет (ОмГТУ), 2017. – 78 с. : табл., схем., ил. – URL: https://biblioclub.ru/index.php?page=book&id=493262. – Режим доступа: электронная библиотечная система «Университетская библиотека ONLINE», требуется авторизация . – Библиогр.: с. 69. – На рус. яз. – ISBN 978-5-8149-2506-0.
Представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов – растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики.Учебное пособие адресовано обучающимся по направлениям 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия».
620.22-022.532:620.3(075)
Рубрикатор Университетской библиотеки онлайн = Учебник для высшей школы